検索結果 シリーズ／商品
●広視野測定・高さや深さのあるサンプルの安全な測定に優れた高性能システム|●スタンダードストローク（250×200×200 mm）
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | iNEXIV VMA-2520 | 白黒1/3型CCD（プログレッシブスキャン）、 カラー1/3型CCD（プログレッシブスキャン/オプション） |
0.1μm | 73.5 mm（レーザーAF装着時63 mm） | EUX, MPE EUY, MPE 2 + 8L /1000 μm EUXY, MPE 3 + 8L / 1000 μm EUZ, MPE 3 + L /50 μm |
250mm | 200mm | 200mm | 0.35～3.5× / 13.3×10～1.33×1 mm | 15 kg（精度保証値：5 kg） | ||
●広視野測定・高さや深さのあるサンプルの安全な測定に優れた高性能システム|●中ストローク（450×400×200 mm）
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
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| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | iNEXIV VMA-4540 | 白黒1/3型CCD（プログレッシブスキャン）、 カラー1/3型CCD（プログレッシブスキャン/オプション） |
0.1μm | 73.5 mm（レーザーAF装着時63 mm） | EUX, MPE EUY, MPE 2 + 6L /1000 μm EUXY, MPE 3 + 6L / 1000 μm EUZ, MPE 3 + L /100 μm |
450mm | 400mm | 200mm | 0.35～3.5× / 13.3×10～1.33×1 mm | 40 kg（精度保証値：20 kg） | ||
●広視野測定・高さや深さのあるサンプルの安全な測定に優れた高性能システム|●大ストローク（650×550×200 mm）
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
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| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | iNEXIV VMA-6555 | 白黒1/3型CCD（プログレッシブスキャン）、 カラー1/3型CCD（プログレッシブスキャン/オプション） |
0.1μm | 73.5 mm（レーザーAF装着時63 mm） | EUX, MPE EUY, MPE 2 + 6L /1000 μm EUXY, MPE 3 + 6L / 1000 μm EUZ, MPE 3 + L /100 μm |
650mm | 550mm | 200mm | 0.35～3.5× / 13.3×10～1.33×1 mm | 50 kg（精度保証値：30 kg） | ||
●高さ測定の向上と多彩な照明装置により、観察領域拡大と高精度測定を両立。|●明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察が可能なユニバーサル反射照明装置を搭載したユニバーサルタイプの基本タイプです。
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||
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| 奥行 | 観察可能高さ | 高さ | 作動距離 | 視野数 | 総合倍率 | 幅 | ||||
| 詳細 | MM-400N/U | 本体のみ | 567mm | 150mm | 638mm | 接眼レンズ CFI10X（視野数22）、CFI10XCM（視野数22） | 300mm | |||
●定評ある光学技術と制御機能を駆使して高精度な測定を実現。|●コストパフォーマンスにすぐれた、測定顕微鏡MM-800N/400Nの基本タイプです。|●測定用途に応じて観察部やステージを選択できます。
該当商品が3件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||
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| 奥行 | 観察可能高さ | 高さ | 作動距離 | 視野数 | 総合倍率 | 幅 | ||||
| 詳細 | MM-400N/M | 本体のみ | 567mm | 150mm | 638mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ 専用10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 300mm | |
| 詳細 | MM-400N/T | 本体のみ | 567mm | 150mm | 638mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 300mm | |
| 詳細 | MM-800N/T | 本体のみ | 703mm | 200mm | 725mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 380mm | |
●定評ある光学技術と制御機能を駆使して高精度な測定を実現。|●Z軸スケールを内蔵した両軸ハンドルタイプです。|●用途に応じて、FA三眼観察部と三眼観察部が選択できます。
該当商品が4件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||
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| 奥行 | 観察可能高さ | 高さ | 作動距離 | 視野数 | 総合倍率 | 幅 | ||||
| 詳細 | MM-400N/LT | 本体のみ | ||||||||
| 詳細 | MM-400N/LFA | 本体のみ | 567mm | 150mm | 638mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 300mm | |
| 詳細 | MM-800N/LT | 本体のみ | ||||||||
| 詳細 | MM-800N/LFA | 本体のみ | 703mm | 200mm | 725mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 380mm | |
●高さ測定の向上と多彩な照明装置により、観察領域拡大と高精度測定を両立。|●Z軸スケールを内蔵した両軸ハンドルタイプです。|●FA反射照明装置LV-UEPI FAとの組み合わせにより、高精度な高さ測定が行なえます。
●定評ある光学技術と制御機能を駆使して高精度な測定を実現。|●正確な上下動操作が軽快に行えてオペレータに負担をかけない、電動上下動タイプ。|●FA三眼観察部と組み合わせることにより、高さ測定誤差を最小限に抑えることができます。
該当商品が2件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||
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| 奥行 | 観察可能高さ | 高さ | 作動距離 | 視野数 | 総合倍率 | 幅 | ||||
| 詳細 | MM-800N/LMT | 本体のみ | 703mm | 200mm | 725mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 380mm | |
| 詳細 | MM-800N/LMFA | 本体のみ | 703mm | 200mm | 725mm | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X（79mm）、3X（75mm）、5X（64mm）、 10X（48mm）、20X（20mm）、50X（15mm）、100X（4mm） |
接眼レンズ CFWN10X（視野数20） | 測定顕微鏡専用対物レンズ 1X、3X、5X、10X、20X、50X、100X | 380mm | |
●MF-1001およびMF-501専用のコンパクトな一軸カウンタ。|●表示・分解能切り替え、方向切り替え、表示単位切り替え機能を搭載。|●ヘッド装着タイプ。|●株式会社ミツトヨ製計測データ入力ユニット（別売品）に対応。
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| リセット | 横 | 回転方向 | 計数速度 | 計数範囲 | 厚さ | 使用温度範囲 | 電源電圧 | ||||
| 詳細 | MFC-200 | 80mm | 0℃～40℃ | ||||||||
●MF-1001、MF-501、MH-15Mに対応。|●最小読み取り値0.01μmに対応したコンパクトで高精度なカウンタ。|●表示・分解能切り替え、方向切り替え、表示単位切り替え機能を搭載。|●外置きタイプ。|●RS-232C出力と、株式会社ミツトヨ製計測データ入力ユニット（別売品）に対応。
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| リセット | 横 | 回転方向 | 計数速度 | 計数範囲 | 厚さ | 使用温度範囲 | 電源電圧 | ||||
| 詳細 | TC-200 | 150.2mm | 0℃～40℃ | ||||||||
●さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。|●千分台の公差管理を、高精度/スピーディー/簡単に。|●ニコン光学技術が実現する、高精度・高速寸法測定。|●画像測定システムNEXIV(ネクシブ)シリーズは、数十年に渡り、全世界、さまさまな産業分野で、厳しい品質管理や効率化のニーズに応えてきました。|●NEXIV VMZ-Sシリーズは、今後拡大する車載向け電子部品や半導体をはじめ、精密機械部品、成型加工部品など様々なサンプルの測定、そして、さらに高度化していく測定ニーズに高精度・高速測定、および多彩なアプリケーションでお応えします。|●機械部分、モールド部分から高密度プリント基板まで、多種多様な測定ニーズに応えます。
該当商品が2件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
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| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | VMZ-S3020T2 | タイプ 2 | カラー 1/3型CMOS | 0.01μm | 50mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
300mm | 200mm | 200mm | |||
| 詳細 | VMZ-S3020TZ | タイプ TZ | 白黒 1/3型CMOS | 0.01μm | (高倍) 11 mm / (低倍) 32 mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
250mm | 200mm | 200mm | |||
●さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。|●千分台の公差管理を、高精度/スピーディー/簡単に。|●ニコン光学技術が実現する、高精度・高速寸法測定。|●画像測定システムNEXIV(ネクシブ)シリーズは、数十年に渡り、全世界、さまさまな産業分野で、厳しい品質管理や効率化のニーズに応えてきました。|●NEXIV VMZ-Sシリーズは、今後拡大する車載向け電子部品や半導体をはじめ、精密機械部品、成型加工部品など様々なサンプルの測定、そして、さらに高度化していく測定ニーズに高精度・高速測定、および多彩なアプリケーションでお応えします。|●各種モールド部品、中型フラットパネル、PCBに最適です。高さのある機械部品や各種治具を用いた測定も可能です。
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | VMZ-S4540T2 | タイプ 2 | カラー 1/3型CMOS | 0.01μm | 50mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
450mm | 400mm | 200mm | |||
●さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。|●千分台の公差管理を、高精度/スピーディー/簡単に。|●ニコン光学技術が実現する、高精度・高速寸法測定。|●画像測定システムNEXIV(ネクシブ)シリーズは、数十年に渡り、全世界、さまさまな産業分野で、厳しい品質管理や効率化のニーズに応えてきました。|●NEXIV VMZ-Sシリーズは、今後拡大する車載向け電子部品や半導体をはじめ、精密機械部品、成型加工部品など様々なサンプルの測定、そして、さらに高度化していく測定ニーズに高精度・高速測定、および多彩なアプリケーションでお応えします。|●大サンプルに対応した大ストロークモデル。小物部品を多数個並べての自動測定やプリント基盤の精密測定に威力を発揮します。
該当商品が2件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
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| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | VMZ-S6555T2 | タイプ 2 | カラー 1/3型CMOS | 0.01μm | 50mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
650mm | 550mm | 200mm | |||
| 詳細 | VMZ-S6555TZ | タイプ TZ | 白黒 1/3型CMOS | 0.01μm | (高倍) 11 mm / (低倍) 32 mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
600mm | 550mm | 200mm | |||
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||
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| 外形寸法 W×D×H | 主柱 | 幅×奥行×高さ | ||||
| 詳細 | MS-22S | 170×250×446 （ステージ寸法：150×150）mm |
φ50mm | |||
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||
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| 外形寸法 W×D×H | 主柱 | 幅×奥行×高さ | ||||
| 詳細 | MS-32G | 120×180×305 （ステージ寸法：120×180）mm |
φ34mm | |||
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||
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| 外形寸法 W×D×H | 主柱 | 幅×奥行×高さ | ||||
| 詳細 | MS-41G | 400×300×486 （ステージ寸法：400×300）mm |
φ50mm | |||
該当商品が1件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||
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| 外形寸法 W×D×H | 主柱 | 幅×奥行×高さ | ||||
| 詳細 | MS-51C | W160×D225 （ステージ寸法：φ100）mm |
H 291 φ50mm |
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