㈱ニコン 画像測定システム NEXIV VMZ-Sシリーズ 中ストローク タイプ 2 VMZ-S4540T2
●さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。
●千分台の公差管理を、高精度/スピーディー/簡単に。
●ニコン光学技術が実現する、高精度・高速寸法測定。
●画像測定システムNEXIV(ネクシブ)シリーズは、数十年に渡り、全世界、さまさまな産業分野で、厳しい品質管理や効率化のニーズに応えてきました。
●NEXIV VMZ-Sシリーズは、今後拡大する車載向け電子部品や半導体をはじめ、精密機械部品、成型加工部品など様々なサンプルの測定、そして、さらに高度化していく測定ニーズに高精度・高速測定、および多彩なアプリケーションでお応えします。
●各種モールド部品、中型フラットパネル、PCBに最適です。高さのある機械部品や各種治具を用いた測定も可能です。
商品CD:559000070
ブランド名 | NIKON |
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商品名 | 画像測定システム NEXIV VMZ-Sシリーズ 中ストローク タイプ 2 |
型式 | VMZ-S4540T2 |
品番 | |
スペック |
カメラ:カラー 1/3型CMOS 最小表示:0.01μm 作動距離:50mm 測定精度:(Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm 測定範囲X軸:450mm 測定範囲Y軸:400mm 測定範囲Z軸:200mm 倍率/視野: 被検物最大質量: |