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㈱ニコン
画像測定システム NEXIV VMZ-Sシリーズ スタンダードストローク
●さまざまなサンプルをカバーする汎用モデルです。|●千分台の公差管理を、高精度/スピーディー/簡単に。|●ニコン光学技術が実現する、高精度・高速寸法測定。|●画像測定システムNEXIV(ネクシブ)シリーズは、数十年に渡り、全世界、さまさまな産業分野で、厳しい品質管理や効率化のニーズに応えてきました。|●NEXIV VMZ-Sシリーズは、今後拡大する車載向け電子部品や半導体をはじめ、精密機械部品、成型加工部品など様々なサンプルの測定、そして、さらに高度化していく測定ニーズに高精度・高速測定、および多彩なアプリケーションでお応えします。|●機械部分、モールド部分から高密度プリント基板まで、多種多様な測定ニーズに応えます。
スペック違いが2件あります。
| 詳細 | 型式 | 品番 | 補助仕様 | スペック | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| カメラ | 最小表示 | 作動距離 | 測定精度 | 測定範囲X軸 | 測定範囲Y軸 | 測定範囲Z軸 | 倍率/視野 | 被検物最大質量 | ||||
| 詳細 | VMZ-S3020T2 | タイプ 2 | カラー 1/3型CMOS | 0.01μm | 50mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
300mm | 200mm | 200mm | |||
| 詳細 | VMZ-S3020TZ | タイプ TZ | 白黒 1/3型CMOS | 0.01μm | (高倍) 11 mm / (低倍) 32 mm | (Lは測定長さ) EUX, MPE EUY, MPE 1.2 + 4L / 1000 µm EUXY, MPE 2.0 + 4L / 1000 µm EUZ, MPE1.2 + 5L / 1000 µm 最大許容プロービング誤差: MPE PF2D 0.8 µm 最大プローブプロービング誤差: MPE PFV2D 0.3 µm |
250mm | 200mm | 200mm | |||