㈱ケット科学研究所 [廃番品] デュアルタイプ膜厚計 エルニクス8500 Basic
●センサを切り離し狭小部測定も簡単、デュアル膜厚計
●測定範囲：0 ～5000μm
●データメモリ13000点（Premium）
●統計計算機能
| ブランド名 | ｹﾂﾄ |
|---|---|
| 商品名 | デュアルタイプ膜厚計 |
| 型式 | エルニクス8500 Basic |
| 品番 | |
| スペック |
メモリー長： 奥行：124mm 高さ：33mm 測定範囲：0 ～ 5000μm（5000μmは5.00mmと表示） 電源：電池1. 5V（単3アルカリ）×2個 幅：67mm 表示分解能：100μm未満0.1μm、1000μm未満1μm、1000μm以上10μm、Premiumは100μm未満の場合、3段階切り替え可能（ 0.01μm、0.1μm、1μm） 測定精度：0 ～ 2000μm未満：±1μm+2%、2000μm以上±3.5%（ 2000μmは2.00mmと表示） 測定対象材質：磁性金属上の非磁性被膜（ FeP、WDP）、非磁性（非鉄）金属上の絶縁被膜（ WDP） 測定方式：電磁誘導式、渦電流式（ WDPのみ） |